HORIBA 模塊化科研級穩(wěn)瞬態(tài)熒光光譜儀

Fluorolog-QM 代表了五十多年HORIBA 的熒光行業(yè)先進經(jīng)驗以及制造高水平和功能多樣性的熒光光譜儀。相較于其他科研級熒光光譜儀，F(xiàn)luorolog-QM 以其全波長范圍內(nèi)的反射性能以及眾多的光源和檢測器選擇方案，全套壽命技術擴展了壽命測試波長范圍至5500nm，以及顯微鏡、X射線、低溫量子產(chǎn)率、偏振、遠程測試、變溫高溫等多種附件選擇方案等優(yōu)勢，為熒光測試提供高靈敏度和無限拓展性。

“儀器性能、通用性及操作便捷性的飛躍提升” 

l  反射式光路設計，保證全波長范圍準確聚焦，無需調(diào)整光路，性能全優(yōu)化，這是高靈敏度的保證

l  具備優(yōu)勢的雜散光抑制比，像差校正長焦長單色儀（單級：350 mm，雙級：700 mm）

l  配備專業(yè)分析軟件，滿足所有穩(wěn)態(tài)和壽命測試需求，具有多種新型壽命擬合功能

l  擴展波長范圍，光路由氣氛保護，保證深紫外到近紅外區(qū)域的檢測

l  可同時連接4種光源和6個檢測器，且全部由電腦控制，實現(xiàn)多功能測試

l  即插即用，100 MHz脈沖光源，強化TCSPC壽命功能

l  近紅外穩(wěn)態(tài)和磷光壽命檢測波長至5500 nm

l  優(yōu)化的光學設計，氙燈光源擴展深紫外激發(fā)（低至180 nm），無臭氧

HORIBA Fluorolog-QM模塊化科研級穩(wěn)瞬態(tài)熒光光譜儀

高靈敏度 

Fluorolog-QM具有HORIBA PowerArcTM型氙燈光源配合橢球形反射鏡，實現(xiàn)70%超高聚光效率，并可將光束聚焦在單色儀狹縫處極小的點上，可更快速地激發(fā)樣品，減少光源功率過大帶來的高能耗與高熱量，維護成本也顯著降低。 

Fluorolog-QM采用了像差校正的單色儀，該單色儀針對光通量與雜散光進行了優(yōu)化，也保證了Fluorolog-QM的高靈敏度。 

全反射式聚焦光路，使得全光譜范圍（180~5500nm）準確聚焦樣品表面，保證了Fluorolog-QM的高靈敏度。 

高分辨率 

Fluorolog-QM系列熒光光譜儀使用350 mm焦長非對稱Czerny-Turner設計單色儀，帶有電動三光柵塔輪和電動轉折鏡，超過30種光柵可選。 

通過電腦控制高精度微步電機和優(yōu)化后的光柵相結合，實現(xiàn)小至0.01 nm步進，與光學設計、長焦長、全反射光學和抑制光學像差相結合，可實現(xiàn)優(yōu)于0.1nm的高光譜分辨率。 

雜散光抑制顯著 

Fluorolog-QM系列熒光光譜儀，配備50 mm焦長非對稱式Czerny-Turner單色儀，采用光路像差校正，分別針對激發(fā)、發(fā)射側獨立優(yōu)化，確保高雜散光抑制能力，獲得熒光信號。單級單色儀具有1×10-5的高雜散光抑制比，為了實現(xiàn)更高的靈敏度和光譜性能，F(xiàn)luorolog-QM還可配置兩個350 mm焦長的單色儀，從而實現(xiàn) 700 mm焦距和1×10-10雜散光抑制比，相較于其他熒光光譜儀，HORIBA 雙級中間狹縫光學設計（軟件控制），進一步優(yōu)化分辨率和雜散光抑制比。 

滿足不同測試需求的多種硬件配置解決方案 

Fluorolog-QM系列采用開放式的結構設計，可實現(xiàn)無限擴展，滿足未來任何可能的熒光應用需求。您可以通過選擇光源、光柵和檢測器以及大量可用的附件來優(yōu)化最初配置?？蛇x配置多種多樣! 

可同時連接4種光源和6個檢測器，且全部由電腦控制，實現(xiàn)多功能測試。 

配合TCSPC，MCS，SSTD和真實門控技術，保證了全光譜穩(wěn)瞬態(tài)（皮秒~秒及長余輝測試）、磷光光譜（延遲光譜）測試功能。 

TCSPC壽命測量 

Fluorolog-QM 系列輕松擴展TCSPC 壽命測試系統(tǒng)。利用先進的TCSPC 激發(fā)光源，電子計時單元和檢測器，F(xiàn)luorolog-QM 可提供快速的測試，強大的通用性。 

l  所有的穩(wěn)態(tài)/ 時間分辨控制，采集和分析都在FelixFL 軟件中進行。

l  超過40 年的TCSPC 研發(fā)和生產(chǎn)經(jīng)驗

l 100 MHz操作系統(tǒng)，實現(xiàn)毫秒內(nèi)完成采集

l  根據(jù)壽命測試時間范圍，軟件自動控制脈沖光源頻率

l  TCSPC 壽命測試范圍從5 ps到s

l  FelixFL軟件包實現(xiàn)穩(wěn)/瞬態(tài)采集

l  可測量TCSPC壽命、時間分辨各向異性和時間分辨發(fā)射光譜（TRES）

l  超過60個先進的脈沖LED和脈沖激光可供選擇

l  配合HORIBA倍頻器，擴展皮秒超連續(xù)激光器的多用途—研究蛋白時間分辨的強大工具

l  壽命衰減曲線分析包具有多種擬合模型，包括最大熵法(MEM)壽命分布程序

近紅外解決方案（適合熱點研究應用：稀土、量子點、AIE、近紅外二區(qū)探針等） 

SSTD磷光檢測模式是所有Fluorolog-QM系統(tǒng)的標配功能，為近紅外樣品的近紅外發(fā)光研究提供解決方案。SSTD測試速度比傳統(tǒng)的MCS技術快8倍，并且不受檢測器類型限制（MCS技術只能配合PMT檢測器），從而擴展壽命檢測范圍至5500nm。 

Fluorolog-QM可配備多個光源和檢測器，以覆蓋最寬波長范圍的穩(wěn)態(tài)光譜，熒光和磷光壽命測試需求?？蓞⒖家韵屡渲?

l  配置R928 PMT、NIR PMT（H0330或R5509-73市場主流型號）、InGaAs和InSb檢測器的雙發(fā)射單色儀覆蓋范圍從185 nm到5500 nm

l  用于穩(wěn)態(tài)光譜的連續(xù)氙燈

l  20 Hz Q調(diào)制開關/OPO激光器，用于210 nm到2200 nm的可調(diào)激發(fā)

l  180 nm到5500 nm的穩(wěn)態(tài)光譜

l  單脈沖實時采集技術(SSTD)用于測量從185 nm到5500 nm范圍內(nèi)的磷光衰減

多種近紅外熒光測試解決方案 

NIR PMT檢測器

NIR PMT檢測器具有超高靈敏度，同時適用于穩(wěn)態(tài)和TCSPC壽命測量，目前TCSPC電子設備是獲得皮秒到納秒熒光壽命的選擇選擇。

4款NIR PMT，滿足寬光譜覆蓋范圍

l  300~1400 nm，液氮制冷

l  300~1700 nm，液氮制冷

l  950~1400 nm，電制冷

l  950~1700 nm，電制冷

固態(tài)光電二極管近紅外檢測器

HORIBA可提供多種光電二極管，包含LN制冷，檢測范圍可擴展至5500 nm。

l  InGaAs: 800~1700 nm/1900/2100/2600 nm

l  InAs: 1000~3450 nm

l  InSb: 1500~5500 nm

NIR 壽命測量波長范圍可達5500 nm!

以上列出所有檢測器均可在單脈沖磷光(SSTD)模式中用于NIR發(fā)光壽命測量，壽命測量范圍可從1微秒至秒。SSTD技術具有超快檢測速度和超高的信噪比:

l  可調(diào)超高頻閃爍氙燈，用于熒光壽命測試

l  第三方脈沖Q調(diào)制激光器

l  相較于NIR PMT，固態(tài)近紅外檢測器提供更高性價比的磷光檢測方案。

強大的FelixFL軟件

Fluorolog-QM 熒光光譜儀集成FelixFL軟件，實現(xiàn)儀器硬件和附件控制。FelixFL作為新型軟件平臺，界面友好，操作簡單，可用于所有穩(wěn)態(tài)及時間相關光譜的采集和分析。通過USB接口連接，F(xiàn)elixFL即可擁有全套數(shù)據(jù)采集支持，實現(xiàn)控制所有系統(tǒng)配置和運行多種操作模式。

高級運算

FelixFL軟件提供多種定制化功能，包括量子產(chǎn)率、吸收、FRET，色坐標計算，以及單壁碳納米管結構參數(shù)等。這對擴展（例如積分球和吸收附件）數(shù)據(jù)分析非常方便，并且對于一些熒光應用也*，例如分子間相互作用（FRET）和材料表征。

l  單壁碳納米管結構計算

l  色坐標計算

l  吸收計算器

l  絕對量子產(chǎn)率

l  FRET熒光共振能量轉移

多種附件可選

Fluorolog-QM系列具有全面的配件系統(tǒng)，研究人員可以根據(jù)實驗需求，不斷擴展儀器功能

l  絕對量子產(chǎn)率測量積分球附件

l  偏振附件

l  吸收/透射附件

l  微量比色皿：250 μl 微量樣品池；500μl 比色皿5×5 mm

l  2位和4位磁力攪拌控溫樣品支架

l  4位磁力攪拌樣品支架

l  液氮或液氦低溫恒溫器

l  固體樣品架，測試角度360°可調(diào)，滿足樣品前表面熒光測量，適用于薄膜，粉末，顆粒，紙張，纖維和顯微載玻片等樣品測量

l  自動滴定儀雙注射，雙閥

l  Hi-tech SFA-20超快停留動力學附件

l  密封防刮標準水樣品，用于水拉曼S/N驗證

l  發(fā)射校正因子附件

l  激發(fā)校正因子附件

l  上轉換激光附件

l  20 μl HPLC 流動樣品池

l  X射線源

l  顯微鏡

l  高溫附件

l  變溫量子產(chǎn)率